PP 281

一个PP 281二维光栅尺可测量两个轴。直接进行二维测量，显著缩短测量环。减少不利影响，显著提高测量精度。

PP 281二维光栅尺采用干涉扫描原理。其测量基准是玻璃陶瓷基体上的相位光栅。这款光栅尺测量步距极小和测量精度极高。

这款光栅尺信号周期极小，分辨率高，是高精度应用的理想选择。对于如此高精度的光栅尺，安装公差相当宽松，因此易于安装。